Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing

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描述

Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing

1 Introduction. - 1. 1 Background. - 1. 2 Prior Work. - 1. 3 Outline. - 2 Circuit and Fault Modeling. - 2. 1 Vector Sequence Notation. - 2. 2 Circuit and Fault Models. - 2. 3 Case Study: k-Regular Circuits. - 3 Hierarchical Test Generation. - 3. 1 Vector Cubes. - 3. 2 Test Generation. - 3. 3 Implementation and Experimental Results. - 4 Design for Testability. - 4. 1 Ad Hoc Techniques. - 4. 2 Level Separation (LS) Method. - 4. 3 Case Study: ALU. - 5 Concluding Remarks. - 5. 1 Summary. - 5. 2 Future Directions. - Appendix A: Proofs of Theorems. - A. 1 Proof of Theorem 3. 2. - A. 2 Proof of Theorem 3. 3. - A. 3 Proof of Theorem 4. 1. Language: English
  • 品牌: Unbranded
  • 类别: 计算机与互联网
  • 语言: English
  • 出版日期: 2011/09/26
  • 艺术家: Debashis Bhattacharya
  • 页数: 160
  • 出版社／标签: Springer
  • 格式: Paperback
  • Fruugo ID: 337915308-741574842
  • ISBN: 9781461288190

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