Thermal and Power Management of Integrated Circuits

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描述

Thermal and Power Management of Integrated Circuits

Power Junction Temperature and Reliability. - Burn-in as a Reliability Screening Test. - Thermal and Electrothermal Modeling. - Thermal Runaway and Thermal Management. - Low Temperature CMOS Operation. Language: English
  • 品牌: Unbranded
  • 类别: 教育
  • 语言: English
  • 出版日期: 2010/11/29
  • 艺术家: Arman Vassighi
  • 页数: 182
  • 出版社／标签: Springer
  • 格式: Paperback
  • Fruugo ID: 337834097-741492728
  • ISBN: 9781441938329

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